Testprober - typer og anvendelse
Testprober - typer og anvendelseDato for offentliggørelse: 03-08-2021 Dato for opdatering: 14-05-2026 🕒 51 min læsning
Produktion af elektroniske kredsløb i stor skala kræver vidtgående automatisering. Det gælder både fremstilling af printkort, placering af komponenter og lodning af dem. Men selv den mest effektive produktionsproces kan blive bremset i den afsluttende kvalitetskontrol. Det er derfor, avancerede ICT-løsninger (In-Circuit Tests), som verificerer et kredsløb og dets parametre gennem en automatiseret række målinger, bruges mere og mere på produktionslinjerne. Denne type inspektion har naturligvis været udført i årtier - men den stigende miniaturisering af elektronik kræver stadig mere præcis afprøvning af printkort og ledningsnet. I en tid med kommunikationskredsløb, der opererer med enorme frekvenser, skal selve målingerne også være mere nøjagtige, mens den generelle brug af digitale kredsløb har ændret IKT-metodologierne uigenkaldeligt. I dag støder vi ofte på forkortelsen FCT (functional testing), som henviser til den detaljerede verifikation af et kredsløbs funktion allerede i den endelige produktionsfase ved at sætte strøm til det og simulere dets funktion i den færdige enhed.
Elektroniske kredsløbstestere består af en masse komponenter - holdere, controllere, målekredsløb og sensorer. De er programmerbare og konfigurerbare enheder. De indeholder også et vigtigt driftselement: testprober. Det er præcise, fjederbelastede prober, der er designet til at skabe god, men kortvarig kontakt med kredsløbselementer - primært ledningerne på passive komponenter og IC'er og områder på et printkort. Ud over at foretage målinger og kontrollere kontinuiteten i baner bruges de også til andre formål. De kan trænge ind i stik og give mulighed for at teste kontaktforbindelser uden at udnytte soklen eller stikhuset. De bruges også i digital elektronik, hvor de blandt andet anvendes til at programmere mikrocontrollere ved hjælp af ISP-teknikken (In-System Programming) og til at udføre test ved at kommunikere med de systemer, der er installeret i kredsløbet (f.eks. ved hjælp af en seriel port eller CAN-bussen i bilindustrien). Specialiserede kontaktprober bruges til fremstilling af batterier, eller rettere sagt celler og pakker, som skal oplades til det optimale niveau til opbevaring og transport, før de opbevares. Et vigtigt anvendelsesområde for kontaktprober er elektroniske tjenester, hvor automatiseret test af kredsløb kan fremskynde processen med at finde og udbedre fejl.
Kontaktprober - de grundlæggende parametre
Den første forskel mellem kontaktproberne kan ses ved første øjekast. Det er formen på spidsen (hovedet). Vi vil diskutere formålet med de enkelte hoveder senere i denne tekst. Vi vil først fokusere på de elektriske og mekaniske parametre, som skal tages i betragtning i forbindelse med den type test, der udføres.
Da prober er i konstant brug og presses mod PCB-komponenter igen og igen, er de udsat for slitage og forurening. I dag, hvor elektronikindustrien ofte anvender blyfri bindemidler (der er hårdere og kræver mere kemisk aggressive flusmidler), spiller kontaktprobernes hårdhed og belægning en særlig vigtig rolle. Derfor støder vi ofte på stålprober og prober lavet af berylliumkobber (CuBe), en legering, der er kendetegnet ved høj holdbarhed og elektrisk ledningsevne, der kan sammenlignes med rent kobber. For at beskytte spidserne mod ætsende påvirkninger er proberne normalt belagt med guld eller nikkel - på den måde bevarer de deres holdbarhed, selv ved hyppig kontakt med flussmidler og deres opløsningsmidler.
Det er vigtigt at være opmærksom på, at en simpel nul-en kontinuitetstest kan udføres med prober med relativt høj modstand. Men en detaljeret kredsløbsinspektion (eller kalibrering) er afhængig af en præcis måling, somkræver forbindelser med den lavest mulige modstand. Derfor findes den nominelle modstand i egenskaberne for alle kontaktprober. Her er en relateret faktor lateral fjederafbøjning - da kun trykket i henhold til producentens anbefalinger garanterer, at der opnås en forbindelse med den specificerede modstand (arbejdsafbøjning vil forekomme efter påføring af en effekt, der bestemmes af en separat parameter). Vær opmærksom på: (1) fjederkompressionen bør ikke overstige det maksimale slag (i en sådan situation vil proben ikke blive dæmpet); (2) trykkraften overføres til komponenterne i det testede kredsløb - en forkert valgt probe kan beskadige komponenter, stier osv.
Den sidste vigtige parameter eracceptabel arbejdstemperatur - fordi automatiserede tests nogle gange udføres mellem kredsløbets produktionstrin eller kort efter reflow-lodningsprocessen. Med andre ord er der situationer, hvor proben er i kontakt med komponenter med høj temperatur. Det gælder også for de såkaldte stresstest og miljøtest, hvor man undersøger, hvordan et kredsløb opfører sig under maksimal belastning eller under ekstreme termiske forhold.
Når man vælger prober til test af kredsløb med en høj tæthed af komponenter, vil en anden parameter være vigtig - den mindste pitch, hvor en given probe kan fungere.
Anvendelse og typer af testprober
Elektroniske kredsløb testes oftest med prober:
- i særligt udpegede områder (test pads), som i præcisionselektronik ofte er dækket med guldbelægning (fig. 1b, 1c, 1d);
- på forbindelser mellem PCB og komponenternes ledninger (fig. 1e);
- VIA-punkter (fig. 1a), dvs. muffer, der forbinder PCB-lag (oftest har vi at gøre med dobbeltsidede kort, men i tilfælde af computer- eller mobiltelefonbundkort består kredsløbene f.eks. af flere lag);
- på kontakter på pin-stik og lignende stik (fig. 1f).
Afhængigt af det punkt, der skal testes, samt behovet (eller manglen på samme) for at trænge igennem aflejringer, oxideret loddemetal eller fluxrester, skal der vælges en probe med den rette hovedform til at udføre testen. Så lad os se på, hvilke funktioner der findes i hver løsning.
Fig. 1. Testpads i elektroniske kredsløb.
Cylindriske eller halvkugleformede prober
Prober udstyret med cylindriske, flade (fig. 2, 3) eller halvkugleformede (fig. 4, 5) spidser er et sikkert værktøj til sondering af testpads** (især dem, der er guldbelagte og rengjorte). Halvkugleformede spidser kan også med succes bruges til målinger på loddetråde eller selve trådene. Den vigtigste egenskab ved sådanne spidser er, at de ikke er invasive.
Den afrundede spids forhindrer ridser på de testede komponenter.
TME tilbyder ogsåprober med en cylindrisk spids med en tilspidset fløjte (fig. 6, 7). Denne form gør det lettere at udføre test på han-stik eller i stedet for samling af THT-elementer. Den brede åbning gør det muligt at "gribe" ledninger, selv om de er bøjede eller placeret upræcist. Specialister påpeger, at den koniske fløjte hurtigt kan blive forurenet - hvis proben anvendes under suboptimale forhold eller i testtjenester for brugt og snavset udstyr. Ikke desto mindre er det en af de mest populære løsninger til verificering af kredsløb med gennemgående huller. Lignende egenskaber findes i radialt fræsede hoveder (fig. 8) - samtidig med at de også er kompatible med flade og konvekse testpunkter.
Fig. 2
| Symbol: | Operationel fjederkompression: | Diameter: | Imax: | Rmax: |
| IT125-P10 | 6,35mm | ingen data | 10A | 9mΩ |
| TK0030N.F150S120A | 2mm | ingen data | 3A | 15mΩ |
| TK0045N.F150C200A | 5.1mm | ingen data | 3A | 10mΩ |
| TK0050N.F254C120A | 5.1mm | ingen data | 3A | 15mΩ |
| TK090N.10100S130N | 3,6 mm | ingen data | 3A | 40mΩ |
| TK32N.10200S170A | 4,2 mm | 2 mm | 3A | 10mΩ |
| TK32N.10250S170A | 4,2 mm | 2,5 mm | 3A | 10mΩ |
| TK32SCR.10150C150A | 4 mm | 1,5 mm | 5A | 10mΩ |
| TK32SCR.10200S150A | 4 mm | 2 mm | 5A | 10mΩ |
| TK36L.10140S170A | 5 mm | 1,4 mm | 3A | 10mΩ |
| TK36L.10250S170A | 5 mm | 2,5 mm | 3A | 10mΩ |
| TK36N.10180S170A | 4,5 mm | 1,8 mm | 5A | 10mΩ |
| TK36SCR.10140S300A | 4 mm | 1,4 mm | 5A | 10mΩ |
| TK37N.10230M300A | 4,5 mm | 2,3 mm | 3A | 10mΩ |
| TK37N.10400M300A | 4,5 mm | 4 mm | 3A | 10mΩ |
| TK37N.10650M300A | 4,5 mm | 6,5 mm | 3A | 10mΩ |
Fig. 3
| Symbol: | Operationel fjederkompression: | Diameter: | Imax: | Rmax: |
| TK0030N.C066S120A | 2mm | ingen data | 3A | 15mΩ |
| TK0045N.C104C200A | 5.1mm | ingen data | 3A | 10mΩ |
| TK0050N.C173C120A | 5.1mm | ingen data | 3A | 15mΩ |
Fig. 4| Symbol: | Operational spring compression: | Diameter: | Imax: | Rmax: |
| 50.105.25.20 | 3.4mm | 2.5mm | 4A, 5.5A | 20mΩ |
| 60.05.33.30 | 4mm | 3.3mm | 4A, 5A | 20mΩ |
| TK0030N.D102S120A | 2mm | ingen data | 3A | 15mΩ |
| TK0045N.D127C200A | 5.1mm | ingen data | 3A | 10mΩ |
| TK0050N.D254C120A | 5.1mm | ingen data | 3A | 15mΩ |
| TK090N.05100S130N | 3,6 mm | ingen data | 3A | 40mΩ |
| TK100N.05135S280N | 3,4 mm | ingen data | 3A | 55mΩ |
| TK100N.05190S280N | 3,4 mm | ingen data | 3A | 55mΩ |
| TK32N.05065S170N | 4,2 mm | 1,6 mm | 3A | 10mΩ |
| TK32N.05130S170A | 4,2 mm | 1,3 mm | 3A | 10mΩ |
| TK32N.05200S170A | 4.2mm | 2mm | 3A | 10mΩ |
| TK32SCR.05130S150A | 4mm | 1.3mm | 5A | 10mΩ |
| TK32SCR.05200S150A | 4mm | 2mm | 5A | 10mΩ |
| TK35N.05130S170A | 6.4mm | 1.3mm | 3A | 10mΩ |
| TK35N.05200S170A | 6.4mm | 2mm | 3A | 10mΩ |
| TK36L.05250S170A | 5mm | 2,5mm | 3A | 10mΩ |
| TK36N.05250S170A | 4,5mm | 2,5mm | 5A | 10mΩ |
| TK36SCR.05230C300A | 4mm | 2,3mm | 10A | 10mΩ |
| TK36SCR.05300C300A | 4mm | 3mm | 10A | 10mΩ |
| TK37N.05230M300A | 4,5 mm | 2,3 mm | 3A | 10mΩ |
Fig. 5
| Symbol: | Operationel fjederkompression: | Diameter: | Imax: | Rmax: |
| 150.105.25.20 | 3,4mm | 2,5mm | 4A, 5,5A | 20mΩ |
| 30.05.13.15 | 3,3mm | 1,3mm | 3A, 4A | 20mΩ |
| 31.05.13.15 | 3.3mm | 1.3mm | 3A, 4A | 20mΩ |
| 40.05.15.15 | 5.3mm | 1.5mm | 3A, 4A | 20mΩ |
| 40.08.13.15 | 5.3mm | 1.3mm | 3A, 4A | 20mΩ |
| TK0030N.J066S120A | 2mm | no data | 3A | 15mΩ |
| TK0045N.J104C200A | 5.1mm | no data | 3A | 10mΩ |
| TK0050N.J173C120A | 5.1mm | no data | 3A | 15mΩ |
| TK0064B.J.2.60.57 | 2.75mm | no data | 3A | 25mΩ |
Fig. 6
| Symbol: | Operationel fjederkompression: | Diameter: | Imax: | Rmax: |
| 100-PRG2522S | 4,24mm | ingen data | 12A | 15mΩ |
| IT100-P22 | 6,35mm | ingen data | 6,5A | 13mΩ |
| IT125-P22 | 6.35mm | ingen data | 10A | 9mΩ |
| TK0030N.A127S120A | 2mm | ingen data | 3A | 15mΩ |
| TK0045N.A150C200A | 5.1mm | ingen data | 3A | 10mΩ |
| TK0050N.A254C120A | 5.1mm | ingen data | 3A | 15mΩ |
| TK32N.09200S170A | 4,2 mm | 2 mm | 3A | 10mΩ |
| TK32SCR.09130C150A | 4 mm | 1,3 mm | 5A | 10mΩ |
| TK32SCR.09200S150A | 4 mm | 2 mm | 5A | 10mΩ |
| TK36L.09250S170A | 5 mm | 2,5 mm | 3A | 10mΩ |
| TK36L.09400S170A | 5 mm | 4 mm | 3A | 10mΩ |
| TK36N.09250S170A | 4,5 mm | 2,5 mm | 5A | 10mΩ |
| TK36N.0S170A | 4,5 mm | 4 mm | 5A | 10mΩ |
| TK36SCR.09230C300A | 4 mm | 2,3 mm | 10A | 10mΩ |
| TK37N.09230M300A | 4,5 mm | 2,3 mm | 3A | 10mΩ |
| TK37N.09400M300A | 4.5mm | 4mm | 3A | 10mΩ |
Fig. 7
| Symbol: | Operationel fjederkompression: | Diameter: | Imax: | Rmax: |
| TK0030N.G066S120A | 2mm | ingen data | 3A | 15mΩ |
| TK0045N.G104C200A | 5.1mm | ingen data | 3A | 10mΩ |
| TK0050N.G173C120A | 5.1mm | ingen data | 3A | 15mΩ |
Fig. 8| Symbol: | Operationel fjederkompression: | Diameter: | Imax: | Rmax: |
| TK090N.16100S130N | 3,6mm | ingen data | 3A | 40mΩ |
| TK100N.16135S280N | 3,4mm | ingen data | 3A | 55mΩ |
| TK100N.16190S280N | 3,4mm | ingen data | 3A | 55mΩ |
Prober til flere formål
De spidser, der er beskrevet ovenfor, har en fejl, der kan vise sig at være kritisk i fremstillingsprocesser, hvor der anvendes blyfri loddetin. Deres design gør det vanskeligt for aflejringer og fluxrester at trænge igennem. Som et alternativ fås cylindriske prober, hvis top er fræset til en matrix af pyramider. Ikke alene kan sådanne prober bruges til at forbinde til de fleste testpunkter (testpuder, THT-ledninger osv.), de trænger også igennem det øverste lag af bindemiddel (f.eks. oxideret), hvilket reducerer risikoen for forfalskning af testresultater.
Mange hjørner letter kontakten med både flade og lodrette elementer.
Fig. 9
| Symbol: | Operationel fjederkompression: | Diameter: | Imax: | Rmax: |
| IT125-P10 | 6.35mm | ingen data | 10A | 9mΩ |
| TK0030N.F150S120A | 2mm | ingen data | 3A | 15mΩ |
| TK0045N.F150C200A | 5,1mm | ingen data | 3A | 10mΩ |
| TK0050N.F254C120A | 5,1mm | ingen data | 3A | 15mΩ |
| TK090N.10100S130N | 3,6 mm | ingen data | 3A | 40mΩ |
| TK32N.10200S170A | 4,2 mm | 2 mm | 3A | 10mΩ |
| TK32N.10250S170A | 4,2 mm | 2,5 mm | 3A | 10mΩ |
| TK32SCR.10150C150A | 4 mm | 1,5 mm | 5A | 10mΩ |
| TK32SCR.10200S150A | 4 mm | 2 mm | 5A | 10mΩ |
| TK36L.10140S170A | 5mm | 1,4mm | 3A | 10mΩ |
| TK36L.10250S170A | 5mm | 2,5mm | 3A | 10mΩ |
| TK36N.10180S170A | 4,5mm | 1,8mm | 5A | 10mΩ |
| TK36SCR.10140S300A | 4mm | 1,4mm | 5A | 10mΩ |
| TK37N.10230M300A | 4,5mm | 2,3mm | 3A | 10mΩ |
| TK37N.10400M300A | 4,5mm | 4mm | 3A | 10mΩ |
| TK3M300A | 4,5 mm | 6,5 mm | 3A | 10mΩ |
Fig. 10
| Symbol: | Operationel fjederkompression: | Diameter: | Imax: | Rmax: |
| TK0030N.C066S120A | 2mm | ingen data | 3A | 15mΩ |
| TK0045N.C104C200A | 5.1mm | ingen data | 3A | 10mΩ |
| TK0050N.C173C120A | 5.1mm | ingen data | 3A | 15mΩ |
Fig. 11
| Symbol: | Operationel fjederkompression: | Diameter: | Imax: | Rmax: |
| IT100-P74 | 6,35mm | ingen data | 6,5A | 13mΩ |
Koniske spidser
Koniske spidser er den ældste og stadig den mest udbredte løsning. Det er vigtigt at huske på, at de har deres begrænsninger og er en forskelligartet produktgruppe.
De kegleformede spidser (fig. 12, 13, 14) kan bruges til næsten alle typer test, selv om de kræver præcis positionering. Selv små variationer i PCB-størrelse vil hurtigt føre til en række forkerte målinger. De 60° og 90° skrå ender bruges primært til at teste VIA-punkter og hunstik. Før påsætning kan loddemasker også bruges til at skabe midlertidige forbindelser til en enkelt kredsløbsbane. Igen skal det bemærkes, at til bøsninger og stik, hvor overfladen kan være forurenet på en eller anden måde, er de fræsede/fluttede typer (fig. 15, 16, 17) den bedste løsning, da deres kanter letter indtrængningen.
Præcis kegle, f.eks. til test af udhulede komponenter.
Den bedste indtrængning af aflejringer i denne produktgruppe sikres af skråtstillede sonder med en vinkel på 30° eller endda 15°. Disse omfatter TEKON-sonder med hoveder 13 og 14 samt den skarpe sonde 44.118.10.15 fra FIXTEST (fig. 18). Denne type prober anbefales ikke til test af VIA-punkter, der er fyldt med loddemetal, fordi de kan beskadige forbindelsen mellem PCB-lagene.
Et særligt tilfælde af kontaktprober med en konisk spids er dem med en affaset spids (fig. 19). Deres form gør det muligt at lave forbindelser til mange typer testpunkter, de er den mest pålidelige metode til at teste stikkontakter, og de tilbyder et relativt stort kontaktområde og derfor: lav modstand og højere strømkapacitet.
Fig. 12
| Symbol: | Operationel fjederkompression: | Diameter: | Imax: | Rmax: |
| TK0030N.E127S120A | 2mm | ingen data | 3A | 15mΩ |
| TK0045N.E150C200A | 5,1mm | ingen data | 3A | 10mΩ |
| TK0050N.E254C120A | 5,1mm | ingen data | 3A | 15mΩ |
| TK090N.06100S130N | 3,6mm | ingen data | 3A | 40mΩ |
| TK100N.06190S280N | 3,4mm | ingen data | 3A | 55mΩ |
| TK32N.06200S170A | 4,2mm | 2mm | 3A | 10mΩ |
| TK37N.06230M300A | 4,5mm | 2,3mm | 3A | 10mΩ |
| TK37N.06400M300A | 4,5mm | 4mm | 3A | 10mΩ |
Fig. 13
| Symbol: | Operationel fjederkompression: | Diameter: | Imax: | Rmax: |
| 150.102.23.20 | 3.4 mm | 2,3 mm | 4A, 5,5A | 20mΩ |
| 154.102.23.20 | 3,8 mm | 2,3 mm | 4A, 5,5A | 20mΩ |
| 30.102.13.15 | 3,3 mm | 1,3 mm | 3A, 4A | 20mΩ |
| 31.102.13.15 | 3,3 mm | 1,3 mm | 3A, 4A | 20mΩ |
| 40.102.13.15 | 5.3mm | 1,3mm | 3A, 4A | 20mΩ |
| 41.102.13.15 | 5,3mm | 1,3mm | 3A, 4A | 20mΩ |
| 50.102.23.20 | 3,4mm | 2,3mm | 4A, 5,5A | 20mΩ |
| IT075-P41 | 4,24mm | ingen data | 6A | 2,5mΩ |
| IT125-P41 | 6.35mm | ingen data | 10A | 9mΩ |
| TK0030N.B066S120A | 2mm | ingen data | 3A | 15mΩ |
| TK0045N.B104C200A | 5.1mm | ingen data | 3A | 10mΩ |
| TK0050N.B173C120A | 5.1mm | ingen data | 3A | 15mΩ |
| TK090N.13100S130N | 3,6 mm | ingen data | 3A | 40mΩ |
| TK32N.13130S170A | 4,2 mm | 1,3 mm | 3A | 10mΩ |
| TK32SCR.13130S150A | 4 mm | 1,3 mm | 5A | 10mΩ |
| TK35N.12080S170R | 6,4 mm | 0,8 mm | 3A | 10mΩ |
| TK35N.13130S170R | 6,4 mm | 1,3 mm | 3A | 10mΩ |
| TK36L.13180S170A | 5mm | 1.8mm | 3A | 10mΩ |
Fig. 14
| Symbol: | Operationel fjederkompression: | Diameter: | Imax: | Rmax: |
| 71.102.07.30 | 4mm | 0.7mm | 3A, 4A | 25mΩ |
| TK36N.14180S170A | 4,5 mm | 1,8 mm | 5A | 10mΩ |
Fig. 15
| Symbol: | Operationel fjederkompression: | Diameter: | Imax: | Rmax: |
| TK0030N.T127S120A | 2mm | ingen data | 3A | 15mΩ |
| TK0045N.T104C200A | 5,1mm | ingen data | 3A | 10mΩ |
| TK32N.08200S170R | 4,2 mm | 2 mm | 3A | 10mΩ |
| TK32SCR.08130S150A | 4 mm | 1,3 mm | 5A | 10mΩ |
| TK32SCR.08200S150R | 4 mm | 2 mm | 5A | 10mΩ |
| TK35N.08200S170R | 6,4 mm | 2 mm | 3A | 10mΩ |
| TK36L.08250S170A | 5 mm | 2,5 mm | 3A | 10mΩ |
| TK36N.08250C170A | 4,5 mm | 2,5 mm | 10A | 10mΩ |
| TK36N.08300S170A | 4,5 mm | 3 mm | 5A | 10mΩ |
| TK36SCR.08230C300A | 4 mm | 2,3 mm | 10A | 10mΩ |
| TK37N.08230M300A | 4,5 mm | 2,3 mm | 3A | 10mΩ |
Fig. 16
| Symbol: | Operationel fjederkompression: | Diameter: | Imax: | Rmax: |
| TK0030N.K127S120A | 2mm | ingen data | 3A | 15mΩ |
| TK0050N.K254C120A | 5.1mm | ingen data | 3A | 15mΩ |
Fig. 17
| Symbol: | Operationel fjederkompression: | Diameter: | Imax: | Rmax: |
| TK0030N.LM127S120A | 2mm | ingen data | 3A | 15mΩ |
| TK0045N.LM150C200A | 5.1mm | ingen data | 3A | 10mΩ |
| TK090N.04100S130N | 3,6 mm | ingen data | 3A | 40mΩ |
| TK100N.04190S280N | 3,4 mm | ingen data | 3A | 55mΩ |
| TK100N.04250S280N | 3,4 mm | ingen data | 3A | 55mΩ |
| TK100N.04350S280N | 3,4 mm | ingen data | 3A | 55mΩ |
| TK32N.04200S170R | 4,2 mm | 0,65 mm | 3A | 10mΩ |
| TK35N.04200S170R | 6.4mm | 2mm | 3A | 10mΩ |
Fig. 18
| Symbol: | Operationel fjederkompression: | Diameter: | Imax: | Rmax: |
| 44.118.10.15 | 7mm | 1mm | 3A, 4A | 20mΩ |
Fig. 19
| Symbol: | Operativ fjederkompression: | Diameter: | Imax: | Rmax: |
| TK36L.11180S170A | 5mm | 1,8mm | 3A | 10mΩ |
| TK36N.11180S170N | 4,5mm | 1,8mm | 5A | 10mΩ |
Crown-milled probes
Man kan sige, atkronefræsede prober (normalt med fire hjørner) kombinerer fordelene ved alle de løsninger, der er præsenteret ovenfor. Selvom de ikke er designet til test af VIA-punkter og hunstik, tilbyder de: fremragende gennemtrængning af belægninger og aflejringer; deres mange skarpe kanter gør det vanskeligt for forureninger at sætte sig fast (selvrensende effekt); ved at omgive hovedets centrale punkt med spidser bliver det lettere for proben at komme i kontakt med ledningerne på THT-komponenter, selv i tilfælde af mindre monteringsfejl (bøjning, forskydning), og fokuserer proben på konvekse testpuder.
TME tilbyder prober med en blød (overfladisk, fig. 20, 21) og skarp (fig. 22, 23) kronespids samt en variant med tre punkter (fig. 24).
Fig. 20
| Symbol: | Operationel fjederkompression: | Diameter: | Imax: | Rmax: |
| 154.105.25.20 | 3,8mm | 2,5mm | 4A, 5,5A | 20mΩ |
| 31.06.13.15 | 3,3mm | 1,3mm | 3A, 4A | 20mΩ |
| TK0045N.W127C200A | 5,1mm | ingen data | 3A | 10mΩ |
| TK100N.02135S280N | 3,4mm | ingen data | 3A | 55mΩ |
| TK100N.02190S280N | 3,4mm | ingen data | 3A | 55mΩ |
| TK32N.02130S170R | 4,2mm | ingen data | 3A | 10mΩ |
| TK35N.02130S170R | 6,4 mm | 1,3 mm | 3A | 10mΩ |
| TK36L.02250S170A | 5 mm | 2,5 mm | 3A | 10mΩ |
| TK36L.02400S170A | 5 mm | 4 mm | 3A | 10mΩ |
| TK36N.02250S170A | 4,5 mm | 2,5 mm | 5A | 10mΩ |
| TK36SCR.02300S300A | 4mm | 3mm | 5A | 10mΩ |
Fig. 21
| Symbol: | Operationel fjederkompression: | Diameter: | Imax: | Rmax: |
| 30.06.13.15 | 3,3mm | 1,3mm | 3A, 4A | 20mΩ |
| 44.46.10.15 | 7mm | 1mm | 3A, 4A | 20mΩ |
| 50.06.25.20 | 3,4mm | 2.5mm | 4A, 5.5A | 20mΩ |
| TK0030N.U030S120A | 2mm | ingen data | 3A | 15mΩ |
| TK0045N.U030C200A | 5.1mm | ingen data | 3A | 10mΩ |
Fig. 22
| Symbol: | Operationel fjederkompression: | Diameter: | Imax: | Rmax: |
| 150.06.25.20 | 3,4mm | 2,5mm | 4A, 5,5A | 20mΩ |
| 154.06.25.20 | 3,8mm | 2,5mm | 4A, 5,5A | 20mΩ |
| 71.106.13.30 | 4mm | 1,3mm | 3A, 4A | 25mΩ |
| TK0030N.V150S120A | 2mm | ingen data | 3A | 15mΩ |
| TK0045N.V127C200A | 5,1mm | ingen data | 3A | 10mΩ |
| TK100N.03135S280N | 3,4mm | ingen data | 3A | 55mΩ |
| TK100N.03190S280N | 3,4mm | ingen data | 3A | 55mΩ |
| TK32N.03130S170R | 4,2mm | ingen data | 3A | 10mΩ |
| TK35N.03200S170R | 6,4mm | 2mm | 3A | 10mΩ |
Fig. 23
| Symbol: | Operationel fjederkompression: | Diameter: | Imax: | Rmax: |
| IT075-P84 | 4,24mm | ingen data | 6A | 2,5mΩ |
| IT100-P84 | 6,35mm | ingen data | 6.5A | 13mΩ |
Fig. 24
| Symbol: | Operationel fjederkompression: | Diameter: | Imax: | Rmax: |
| TK0045N.X150C200A | 5,1mm | ingen data | 3A | 10mΩ |
Prober til særlige formål
Ud over prober til grundlæggende elektrisk test omfatter TME's sortiment også specialiserede prober til præcisionsmåling, LED-test og håndtering af (genopladelige) batterier.
Automatiseret fire-trådsaflæsning
Four point/four-wire sensing involverer anvendelse af fire prober på en sektion af et kredsløb. Det yderste par lader strømmen løbe gennem den komponent, der testes, mens det inderste par bruges til at måle potentialforskellen ved komponentens indgang og udgang. Med data om strøm- og spændingsfald bestemmer måleren modstanden i det undersøgte objekt med stor præcision. I modsætning til en topunktsmåling vil resultatet ikke blive påvirket af modstanden i probeledningerne - og derfor bruges denne teknik oftest til at teste lave modstande som en del af test og kalibrering af præcisionselektronik (f.eks. måleinstrumenter). Denne metode kaldes ofte Kelvin (eller Kelvin) sensing/system.
For at udføre fire-trådsmåling er der brug for en særlig type kontaktprober, som hver er udstyret med to uafhængige kontakter. Elementerne er tilpasset til at udføre målinger på stik og testpunkter, der er specielt designet til dette formål. Guldbelægningen og materialet sikrer gentagelsesnøjagtighed og lav forbindelsesmodstand - selv med et stort antal og en høj frekvens af til- og frakoblingscyklusser.
LED-testning
LED-test under masseproduktionsforhold er baseret på (1) elektriske målinger og (2) tilførsel af strøm og verificering af, at lyset fra LED'en har den korrekte lysstyrke og farve. Funktionstesten kontrollerer også, at indikatorerne kommunikerer enhedens status korrekt. For at verificere diodens funktion sættes særlige kontaktprober på LED'en, og det udsendte lys sendes gennem en optisk fiber. Yderligere målinger foretages af en sensor, der er placeret i den anden ende af den optiske fiber (normalt måles både strålingens intensitet og bølgelængde). Den fiberoptiske spids, der er fastgjort til proben, er normalt placeret i en rille, der begrænser tilstrømningen af eksternt lys, så testen ikke behøver at blive udført i mørke.
Hos TME tilbyder vi et udvalg af LED-kontaktprober af mærket TEKON med diametre fra 1,1 mm til 5 mm. Dette udvalg falder sammen med de mest populære størrelser af lysdioder - fra SMD-komponenter til standard THT-kontroller.
Batteriprober
En anden specifik type kontaktprober er emner, der er designet til at skabe midlertidige forbindelser til strømkildernes terminaler. Denne type prober bruges til at teste almindelige forbrugerbatterier (AA, AAA osv.) samt genopladelige batterier. Da alle celler har en optimal opladningsgrad, som de bør opbevares i, bruges prober, der er tilpasset batteripolerne, også i processen med at oplade batterier (i sidste fase af produktionen), hvilket giver mulighed for sikker opbevaring og transport af dem **** .
Det store overfladeareal og fjederkompressionskraften garanterer en god fastgørelse til terminalen.
Batteriprobespidser er normalt cylindriske eller halvkugleformede. Da størrelsen på strømkilder er strengt defineret af internationale standarder, er batteriprober kendetegnet ved en lav fjederkompression.
| Symbol: | Operationel fjederkompression: | Diameter: | Imax: | Rmax: | |
| 365.35.40.40 | 2,7mm | 4mm | 3A | 30mΩ | |
| 365B.35 | |||||
| .40.40 | 2,7mm | 4mm | 15A | 30mΩ | |
| FK-441 | 1,52mm | 0,75mm | 3A | 100mΩ | |
| FK-586 | 1,33mm | 1,02mm | 1A | 30mΩ | |
| FK-606B | 1,33mm | 1,02mm | 3A | 30mΩ | |
| FK-691 | 1mm | 1,3mm | 5A | 30mΩ | |
| FK-714 | 1mm | 1,3mm | 5A | 15mΩ | |
| IT-5303 | ingen data.60.57 | 2.75mm | no data | 3A | 25mΩ |
| TK53B.0.5.1.30.200 | 1mm | no data | 1.5A | 10mΩ | |
| TK54B.0.5.1.30.200 | 1.5mm | no data | 1.5A | 10mΩ |
Transfer Multisort Elektronik (TME) er en af verdens største globale distributører af elektroniske komponenter, elektrotekniske dele, værkstedsudstyr og industriel automatisering. Kataloget omfatter over 1.500.000 produkter fra 1.300 førende producenter. TME's moderne logistikcentre i Łódź og Rzgów (Polen), med et samlet areal på over 40.000 m², sender dagligt næsten 6.000 pakker til kunder i mere end 150 lande.
TME investerer også i udviklingen af viden og færdigheder hos unge ingeniører og elektronikentusiaster gennem TME Education-projektet og støtter teknologisamfundet ved at organisere TechMasterEvent -serien, der fremmer innovation og erfaringsudveksling.
